ICP-MS6880離子鏡介紹
在ICP－MS中，產生的1000，000個離子中，只有1個能夠最終到達檢測器，這是由于每級的效率決定的，在這樣低效率的傳輸下，去除各種干擾就變得更加重要了，離子鏡的主要目的是去除電子和中性微粒的影響，并對正電子實現(xiàn)聚焦。離子鏡的結構如下圖所示。
當離子從截取錐噴出時，在進入離子鏡之前，能量較小的離子會更多的被真空抽走。
等離子體首先進入的是截取透鏡（extraction lens），截取透鏡具有很強的負電勢，所以電子無法通過，被真空抽走。在后面是幾級離子聚焦透鏡，離子聚焦透鏡的原理是：安裝兩個電極板或圓筒，在兩個電極之間形成了透鏡狀的等場強線，當邊緣離子入射到電場時，受電場影響，向中心移動，隨后出射運動方向又恢復到了向前，實現(xiàn)了位置上的聚焦。ICP－MS在產生離子的同時，也產生大量光子，由于光子也可以被檢測器檢測和計數(shù)，所以在離子透鏡的末端，是一個偏轉透鏡，用于去除光子干擾。(一般來講，采樣錐離子流為0.1A，截取錐電流為1mA)
在ICP－MS6880中，透鏡組如下圖：
接口錐后配備2個提取透鏡。
2個提取透鏡電壓可分別調節(jié)電壓，可以實現(xiàn)軟提取、硬提取、浸透式提取等，多種提取模式，提升各種復雜基體的分析能力.
樣品通過離子源離子化，形成離子流，通過接口進入真空系統(tǒng)，在離子鏡中，負離子、中性粒子以及光子被攔截，而正離子正常通過，并且達到聚焦的效果。在分析器中，儀器通過改變分析器參數(shù)的設置，僅使我們感興趣的核質比的元素離子順利通過并且進入檢測器，在檢測器中對進入的離子個數(shù)進行計數(shù)，得到了最終的元素的含量。
